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薄膜介电常数介质损耗测试仪

薄膜介电常数介质损耗测试仪

产品简介:薄膜介电常数介质损耗测试仪工作特性

1.Q值测量

a.Q值测量范围:2~1023;

b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

型    号:HRJD-70MHZ
更新时间:2022-08-31
访问数量:212
薄膜介电常数介质损耗测试仪产品概述:
品牌北广精仪价格区间1万-2万
产地类别国产应用领域化工,生物产业,能源,电气,综合

薄膜介电常数介质损耗测试仪标称误差

频率范围 25kHz~10MHz  固有误差≤5%±满度值的2%   工作误差≤7%±满度值的2% 

频率范围 10MHz~60MHz  固有误差 ≤6%±满度值的2%  工作误差≤8%±满度值的2%

电感测量范围 14.5nH~8.14H

直接测量范围 1-460P  主电容调节范围 40~500pF  准确度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%

 注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 

信号源频率覆盖范围

频率范围 10kHz~70MHz

CH1 10~99.9999kHz CH2  100~999.999kHz  CH3 1~9.99999MHz CH4 10~70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字

介电常数仪, 介电常数介质损耗测试仪, 液体介电常数介质损耗测试仪, 薄膜介电常数测试仪, 介质损耗因数测量仪, 介电常数介质损耗测试仪, 高频介电常数测试仪, 塑料介电常数测试仪, 橡胶介电常数测试仪, GB1409介电常数测试仪, 介电常数测试仪, 电容率测试仪, 电容器纸介电常数测试仪, 点胶纸介电常数测试仪

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A型Q表在测试Q值时,已对测试回路的残量作了修正,故不再需要对Q值进行均值修正。

◇主要特点:空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低  

薄膜介电常数介质损耗测试仪主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至Z低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

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介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至Z低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

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